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光焱科技REPS+與G2 Voc損耗分析儀是一個完整的系統(tǒng)，可以幫助科學家測量、計算和分析工作中的太陽能電池中的 Voc-loss，并為下一步的工藝改進提供思路。

LQ-100X-PL外部量子效率eqe,外量子效率eqe測試系統(tǒng)適用測試PLQY (Photoluminescence Quantum Yield, 光致發(fā)光量子產率)。 PLQY 是評價發(fā)光材料的重要指標，除了可以用來對材料進行初級分類的基本參數(shù)，且對于發(fā)光系統(tǒng)與其載子動力學的重要分析方法。

在半導體器件中，不完好的結晶度往往會導致禁帶隙中的缺陷或陷阱態(tài)，這極大地影響了器件的整體光學和電學性能。由于帶隙中的吸收系數(shù)極低，產生的光電流信號也極弱。因此，需要高度靈敏的檢測系統(tǒng)。 Enlitech 的 FTPS 是一種高靈敏度的光電流和外量子效率 (HS-EQE) 光譜系統(tǒng)。它利用傅里葉變換信號處理技術來增強和突破光電流信號檢測極限。 EQE 水平可以低至10-5%（7 個量級）*。

光焱科技QE-R量子效率測試系統(tǒng)采用了高效的橢圓反射器，比傳統(tǒng)的球形透鏡和反射器具有更高的集光效率。且于60cm x 60cm x 60.7cm 的主體內集成了所有光學和機械部件，節(jié)省了大量實驗室空間，但仍保持了各種類型的太陽能電池測試夾具的靈活性。并且也提供簡單而完整的手套箱集成方案。

Enlitech 隆重推出QFLS-Maper 損耗分析-準費米能級檢測儀，可視覺化呈現(xiàn)QFLS image，一眼即可掌握樣品QFLS、Pseudo J-V、PLQY、EL-EQE等全貌；最快2分鐘可透過Pseudo J-V評估材料效率的極限；極限3秒，就可以了解QFLS費米能級分布情況，1眼掌握材料整理全貌、2分鐘評估材料潛力、3秒鐘分析QFLS態(tài)樣。

APD-QE 采用了光束空間強度技術，利用 ASTM 標準制定的「Irradiance Mode」測試方式，與各種優(yōu)良探尖臺形成完整的微米級光感測器全光譜效率測試解決方案。APD-QE 已被應用于多種優(yōu)良光感測器的測試中，例如在iPhone 曝光及其多種光感測器、Apple Watch 血氧光感測器、TFT 影像感測器、源動態(tài)圖元感測器（APS）、高靈敏度間切換 X 射線感測器等。